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31W型一米平面光栅摄谱仪

本仪器利用平面反射式光栅分光研究物质的成份和含量，主要用于金属合金（包括矿物矿井石）的日常定性量分析，

纯金属和材料的杂质鉴定，与各种附件配合，用作激光微区分析、记录闪光和弱光现象。

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1.适用于地球化学样品中 Ag、Sn、B、Mo、Pb、Zn 等元素的测定；

2.适用于氧化钨粉末样品中 Al、Mn、As、Mo、Bi、Ni、Ca 、Pb、Cd、Sb、Co、Si、Cr、Sn、Cu、Ti、

Fe、V、Mg 等杂质元素的测定。

3.适用于氧化钼粉末样品中 Al、Mn、Mo、Bi、Ni、Ca、Pb、Cd、Sb、Co、Si、Cr、Sn、Cu、Ti、Fe、

V、Mg 等杂质元素的测定。

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